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X射线衍射仪

发布时间:2021-04-09 15:41:39 浏览次数: 46

(一)主要技术参数:

主要用于研究微结构,例如晶体结构、多晶物质的相分析、晶体的取向性、晶格常数和结晶性等。

(1) 最大输出功率:≥3kW;

(2)光管功率:    ≥2.2 kW;

(3) 扫描方式:   垂直型θ/θ测角仪,样品台固定;

(4) 扫描范围:   -12°至164°(2θ) ;

(5) 测角仪半径: ≥195 mm

(二)样品要求

(1)粉末样品

(2) 厚度1mm,直径不超过30mm块状样品

(三)设备图


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